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簡要描述:用于材料研究的Axio Imager 2材料研究金相顯微鏡,您進行高級材料研究時,請在光學顯微鏡工作流程中引入易用性。使用 ZEISS Axio Imager 2 獲得材料的準確且可重復的結果,讓您受益匪淺。選擇適合您的應用的系統(tǒng)。通過顆粒分析、共焦或相關顯微鏡等專用解決方案擴展您的儀器。
產(chǎn)品型號:
廠商性質:經(jīng)銷商
更新時間:2025-09-03
訪  問  量:2766產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
    可重復的結果
    享受無振動的工作條件
    欣賞AxioImager2穩(wěn)定的成像條件,尤其是在使用高放大倍率或執(zhí)行時間依賴性研究時。由于AxioImager2的機動化,可在始終在恒定條件下工作的同時實現(xiàn)快速且可重復的結果。

   用于材料研究的蔡司AxioImager2蔡司金相顯微鏡
    用于自動材料分析的開放式顯微鏡系統(tǒng)
    當您進行高級材料研究時,請在光學顯微鏡工作流程中引入易用性。使用ZEISSAxioImager2獲得材料的準確且可重復的結果,讓您受益匪淺。選擇適合您的應用的系統(tǒng)。通過顆粒分析、共焦或相關顯微鏡等專用解決方案擴展您的儀器。
    可重復的結果
    模塊化設計
    模塊化設計
    獲得增強的靈活性
    無論是在學術研究還是工業(yè)研究中,材料顯微鏡都面臨著各種挑戰(zhàn)。借助AxioImager2,您將能夠應對并贏得這些挑戰(zhàn)。連接特定于應用的組件并執(zhí)行例如顆粒分析。研究非金屬夾雜物(NMI)、液晶或基于半導體的MEM。通過共焦或相關顯微鏡專用解決方案擴展您的儀器。
 

     高光學性能
    實現(xiàn)出色的對比度和分辨率
    使用不同的對比技術檢查一系列材料,例如金屬、復合材料或液晶。
    使用反射光并在明場、暗場、微分干涉襯度(DIC)、圓微分干涉襯度(C-DIC)、偏振或熒光下觀察樣品。
    使用透射光并在明場、暗場、微分干涉襯度(DIC)、偏振或圓偏振下檢查樣品。對比度管理器確??芍貜偷恼彰髟O置。
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